Fatores de sucesso e fracasso em Projetos de Base Tecnológica no contexto do PII

Autores

  • Jordana Torres Machado
  • Luciana Paula Reis DEENP/Universidade Federal de Ouro Preto
  • Sergio Evangelista Silva DEENP/Universidade Federal de Ouro Preto

DOI:

https://doi.org/10.18407/issn.1983-9952.2013.v5.n1.p472-482

Palavras-chave:

Processo de Planejamento Tecnológico, Plano Tecnológico, Processo de Planejamento do Negócio, Empresas Nascentes de Base Tecnológica.

Resumo

Entre as diversas ações que buscam alavancar a inovação e desenvolvimento tecnológico está a promoção de empresas de base tecnológica (EBTs). Assim, esta pesquisa tem como objetivo identificar as decisões relevantes para a evolução do projeto ao longo do processo de planejamento do produto e do negócio, como também a identificação dos fatores que conduzem ao sucesso e, até mesmo, o fracasso desses projetos. Este estudo será realizado a partir de análises dos relatórios do PII oriundos da UFMG e também através de um estudo comparativo entre os projetos, utilizando, para isso, a estratégia metodológica da análise de conteúdo. O Programa de Incentivo à Inovação (PII) é um programa do governo que busca permitir que projetos de pesquisa aplicada se transformem em inovações tecnológicas, promovendo o desenvolvimento regional e facilitando a integração entre a academia e o setor empresarial. Como resultado da pesquisa, espera-se a identificação dos fatores críticos para o sucesso dos projetos dos PIIs ao longo do PPNeg (Processo de Planejamento do Negócio) que contempla três importantes perspectivas: a institucional, o modelo de negócio e os recursos (financeiro e humano/social). Este estudo pode servir como elemento de apoio à elaboração e implantação desses tipos de projetos em universidades.

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Como Citar

Torres Machado, J. ., Paula Reis, L. ., & Evangelista Silva, S. . (2013). Fatores de sucesso e fracasso em Projetos de Base Tecnológica no contexto do PII. Revista Eletrônica Produção &Amp; Engenharia, 5(1), 472–482. https://doi.org/10.18407/issn.1983-9952.2013.v5.n1.p472-482